名称:水下高光谱剖面仪
型号:Profiler II
品牌:加拿大satlantic
安装时间: 2017-3
设备简介
Profiler II可做自由落体式的水色剖面测量,也可以连接一个分离式的浮筒对海水近表面水层进行测量(HyperTSRB)。它可以搭载多光谱或高光谱传感器,给研究者提供多种环境、多用途的光学测量平台,还可选配电导率、温度、 WET Labs ECO puck 传感器,在测量固有光学特性的同时,提供更加全面的综合测量。Profiler II可以提供的数据有:离水辐亮度、遥感反射、能量通量、有效光合辐射和漫衰减系数等。
主要技术参数
1. 采样频率: 最大12Hz
2. 耐压水深: 220m
3. 压力传感器:测量范围30 bar (435 psi),测量精度0.01 %全量程,测量分辨率0.002 %全量程,10 bar (145 psi)可选
4. 外置温度传感器:测量范围2 ~+ 32 ℃,测量精度0.005℃测量分辨率0.001℃
5. 电导率传感器 测量范围0-70mS/cm,测量精度0-70mS/cm,测量分辨率0.001 mS/cm
6. 其他可选传感器: WET Labs ECO系列传感器、荧光计、后向散射计、浊度计